Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV) - Morfologia e Tamanho de Partículas

O princípio do Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) é baseado na emissão termoiônica de um feixe de elétrons a partir de um filamento metálico.

O feixe de elétrons é focado por lentes em um feixe da ordem de 0,4 a 0,5 nm.

Quando o feixe interage com a amostra cerâmica, os elétrons perdem energia por dispersão e absorção formando um volume de interação, que penetra até 5 µm para dentro da superfície da amostra.

Isso revela a superfície e as fases de uma amostra cerâmica.

Normas avaliadas pelo CCDM: Metodologia interna e outros procedimentos sob consulta.

Informações adicionais: Informações Adicionais: O MEV produz imagens com alta resolução da superfície de uma amostra, com aparência tridimensional e ampliação de até 300.000 vezes, sendo útil para avaliar a estrutura superficial.

O MEV com o acoplamento de EDS (Detector de Energia Dispersiva) é um dos equipamentos mais completos e importantes na análise de materiais.